Un método simplificado para tratar muestras con patrones de franjas en shearografía láser

Resumen

La shearografía es una técnica de inspección no invasiva que mide la deformación de una superficie mediante el procesamiento de dos imágenes réplicas provenientes de la muestra iluminada con haces de luz coherente, que se desplazan entre sí(shear). Sus aplicaciones cubren una extensa área que va desde experimentos simples de laboratorio hasta casos complejos de la industria aeroespacial. En el campo de los materiales compuestos tiene aplicación directa como una técnica cualitativa para detectar defectos tales como delaminaciones, grietas y desprendimientos. Por la naturaleza de su implementación es inmune a factores agresivos del ambiente ,pudiendo ser utilizada tanto en el laboratorio como en mediciones de campo. Sin embargo, los equipos de shearografía comercialmente disponibles tienen un costo elevado para el presupuesto de muchos laboratorios de investigación y pequeñas empresas. Puede resultar atractivo contar con shearógrafos prototípicos o "lab-made" construidos a partir de elementos discretos de óptica y sistemas de adquisición de imágenes integrados de fácil consecución y bajo costo, pero que requieren de un conocimiento más profundo de la técnica y un adecuado procesamiento de las imágenes. En este trabajo, mostramos un método simple para interpretar la información de cualquier esquema básico de shearografía para un caso muy común en el que la distancia de iluminación y observación no cumple la condición de ser mayor en comparación con la separación lateral de shear. Para ello describimos un típico esquema de shearógrafo aplicado a la medición de deformación lateral de muestras de resina epoxi y formulamos los pasos sencillos para la obtención de las imágenes de shear o shearogramas para su posterior análisis. Las conclusiones se pueden aplicar a una amplia variedad de materiales y estrategias de deformación. Los procedimientos presentados aquí se pueden implementar fácilmente para desarrollar potentes instrumentos de shearografía de campo personalizables de acuerdo con los requisitos del usuario.