Medición de la absorción de dos fotones en semiconductores con una técnica basada en variaciones de la potencia láser

Daniel Montoya, Esteban Marulanda, Juan Serna, Hernando Garcia, Edgar Rueda


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Información básica

Volumen

V55 - N2 / 2022 Ordinario

Referencia

51109

DOI

http://dx.doi.org/10.7149/OPA.55.2.51109

Idioma

English

Etiquetas

F-scan, Z-scan, coeficiente de absorción de dos fotones

Resumen

En este trabajo proponemos una técnica basada en la técnica F-scan para medir la absorción de dos fotones en semiconductores a partir de la variación de la potencia láser. La técnica, que hemos denominado P-scan, hace uso de la capacidad de una lente electro-óptica para medir la señal en el régimen de absorción lineal y nolineal, lo que permitirá obtener una razón entre las transmitancias correspondiente a una función lineal con pendiente proporcional al coeficiente de absorción de dos fotones. Para verificar la capacidad de la técnica esta se implementó en simultaneo con las técnicas F-scan y Z-scan en un mismo montaje óptico. La implementación en simultáneo permitió realizar una comparación de las tres técnicas bajo los mismos parámetros experimentales. La comparación demostró que bajo los mismos parámetros las tres técnicas obtienen dentro del rango de incertidumbre un mismo valor de absorción de dos fotones efectivo.

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