Medición de espesor de placas de vidrio por señal de error de foco de spot binario 

A. D. Aguilar, J. R. Torga 


Descargar artículo

Información básica

Volumen

V52 - N4 / 2019 Ordinario

Referencia

51035: 1-9

DOI

http://dx.doi.org/10.7149/OPA.52.4.51035

Idioma

English

Etiquetas

Señal de error de foco, astigmatismo, espesor, perfilómetro de haz, múltiples spots

Resumen

Los sistemas de error de foco basados en el principio astigmático que utilizan detectores de cuatro cuadrantes como elemento generador de señal han sido usados ampliamente en una gran variedad de aplicaciones. Sin embargo, su principio de funcionamiento no es particularmente adecuado para medidas que involucran más de un spot. En este trabajo proponemos un nuevo método que usa un CCD como dispositivo de detección y un método de procesar los datos adquiridos. Un efecto secundario de este cambio es la pérdida del parámetro SEF, clave en estas técnicas. Para superar este problema se propone un nuevo parámetro que llamamos señal de foco. El proceso de medición de espesor de una muestra transparente con dos caras reflectoras usando esta técnica también es presentado.

Referencias

0

C. Bricot, J.C. Lehureau, C. Puech, F.L. Carvennec, "Optical Readout of Videodisc", IEEE Transactionson Consumer Electronics, 8 (8), 304-308 (1976),

1

B. Hnilička, A. Voda, H.-J. Schröder, "Modelling the characteristics of a photodetector in a DVDplayer", Sensors and Actuators A Physical, 120 (2), 494-506 (2005).

2

S. Goldwasser, "Lasers in Consumer Electronics The Optical Pickup", Optics and Photonics News, 22(2), 12 (2011)

3

C.-H. Liu, Z.-H. Li, "Application of the astigmatic method to the thickness measurement of glasssubstrates", Appl. Opt., AO, 47 (21), 3968–3972 (2008).

4

C.-H. Liu, S.-C. Yeh, H.-L. Huang, "Thickness measurement system for transparent plates using dual digital versatile disc (DVD) pickups", Appl. Opt., AO, 49 (4), 637–643 (2010).

5

Z. Bai, J. Wei, "Focusing error detection based on astigmatic method with a double cylindrical lens group", Optics & Laser Technology, 106, 145-151 (2018).

6

K.C. Fan, C.Y. Lin, L.H. Shyu, "The development of a low-cost focusing probe for profile measurement", Meas. Sci. Technol. 11 (1), N1–N7 (1999).

7

E.A. Domené, D. Schiltz, D. Patel, T. Day, E. Jankowska, O.E. Martínez, J.J. Rocca, C.S. Menoni, "Thin film absorption characterization by focus error thermal lensing", Review of Scientific Instruments. 88 (12), 123104 (2017).

8

C.-S. Liu, T.-Y. Wang, Y.-T. Chen, "Novel system for simultaneously measuring the thickness and refractive index of a transparent plate with two optical paths", Appl. Phys. B., 124 (9), 180 (2018).

9

T. Coleman, Y. Li, "An Interior Trust Region Approach for Nonlinear Minimization Subject to Bounds", SIAM J. Optim., 6 (2), 418–445 (1996).

10

T.F. Coleman, Y. Li, "On the convergence of interior-reflective Newton methods for nonlinear minimization subject to bounds", Mathematical Programming., 67 (1), 189–224 (1994).

11

L. Li, C. Kuang, D. Luo, X. Liu, "Axial nanodisplacement measurement based on astigmatism effect of crossed cylindrical lenses", Appl. Opt., AO., 51 (13), 2379–2387 (2012).

12

F. Arnesson, How to run a semiconductor diode laser in a stable way, Master Thesis, Umeå, Umeå Univeristet, (2012).

13

S. Nemoto, "Waist shift of a Gaussian beam by plane dielectric interfaces", Appl. Opt., AO., 27 (9), 1833–1839 (1988).

14

M. N. Polyanskiy, "Refractive index database, Refractive index of BK7 - SCHOTT, (n.d.)". (accessed June 25, 2019).

15

E.N. Morel, M.V. Gutierrez, H.M. Miranda, E.L. Sambrano, J.R. Torga, "Optical coherence tomography-based scanning system for shape determination, wall thickness mapping, and inner inspection of glass containers", Appl. Opt., AO., 52 (9), 1793–1798 (2013).